ITCS召開圖性質(zhì)測(cè)試研討會(huì)
ITCS召開圖性質(zhì)測(cè)試研討會(huì)
2010年01月10日 瀏覽次數(shù): 0
2010年1月8日上午9點(diǎn)，ITCS圖性質(zhì)測(cè)試研討會(huì)（ITCSmini-workshop on Property Test）在清華大學(xué)FIT樓1區(qū)315召開。理論計(jì)算機(jī)科學(xué)研究中心副主任王躍宣教授主持了研討會(huì)開幕式。
王躍宣教授主持開幕式
圖性質(zhì)測(cè)試與PCPs、密碼學(xué)理論等領(lǐng)域緊密關(guān)聯(lián)，在過去幾十年里得到了廣泛的關(guān)注與研究。此次研討會(huì)為期三天，旨在為世界該領(lǐng)域的著名研究人員提供一個(gè)相互交流、促進(jìn)研究的平臺(tái)。
Oded Goldreich教授致開幕辭
著名密碼學(xué)專家、以色列魏茲曼科學(xué)研究院的計(jì)算機(jī)科學(xué)教授Oded Goldreich在開幕式上致辭，對(duì)中心舉辦此次研討會(huì)、提供一次領(lǐng)域內(nèi)切磋討論的機(jī)會(huì)表示感謝。
研討會(huì)現(xiàn)場(chǎng)
簡(jiǎn)短的開幕式過后，與會(huì)人員共同合影留念。
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