2019年2月20日,清華大學(xué)生命學(xué)院李雪明課題組在《結(jié)構(gòu)生物學(xué)報》(Journal of Structural Biology)雜志上在線發(fā)表題為《利用聚焦離子束制備微晶電子衍射樣品切片》(Using Focus Ion Beam to Prepare Crystal Lamella for Electron Diffraction)的研究論文。該研究為電子衍射技術(shù)提供了一種新的樣品制備方法,彌補了以往樣品制備方法中的局限,拓展了電子衍射技術(shù)的使用范圍。
利用微晶電子衍射技術(shù)(MicroED)解析晶體結(jié)構(gòu)日益成為冷凍電子顯微學(xué)(cryoEM)的一個重要分支。由于電子與物質(zhì)具有很強的相互作用,電子衍射可以用來解析X射線同步輻射光源無法解析的亞微米級別的微小晶體的結(jié)構(gòu)。然而,極強的電子與物質(zhì)相互作用也限制了晶體厚度不能超過0.5微米,過厚的晶體會導(dǎo)致電子不能透射或產(chǎn)生嚴重的動力學(xué)散射效應(yīng),使得衍射點的強度產(chǎn)生偏差而難以解析結(jié)構(gòu)。為了達到電子衍射要求的樣品厚度,現(xiàn)有樣品制備方法通常是篩選小晶體或者利用機械力將大塊晶體破碎,尋找晶體較薄的邊緣用于收集數(shù)據(jù),然而這種方法具有很多不可控因素,在現(xiàn)實中難以操作,且易對脆弱晶體造成損傷。
李雪明課題組借鑒了已在冷凍電子斷層成像(cryoET)中應(yīng)用的聚焦離子束(FIB)切割技術(shù),使用匯聚的離子束對大塊晶體進行切割,使之滿足電子衍射的厚度要求,成功制備了高質(zhì)量的晶體切片,并將兩個測試蛋白的結(jié)構(gòu)解析到1.5 和1.7 ,基本消除了電子衍射對晶體大小的限制。同時,李雪明課題組還研究了聚焦離子束切割對晶體造成輻照損傷,發(fā)現(xiàn)從單一方向?qū)w噴鍍Pt保護層難以覆蓋多面體形狀晶體的全部表面,從而導(dǎo)致嚴重的表面輻照損傷。實驗發(fā)現(xiàn),從雙束掃描電鏡(SEM/FIB)的電子束和離子束兩個方向噴鍍可以有效減少輻照損傷。利用FIB切割可以控制樣品厚度的特性,本研究發(fā)現(xiàn)晶體切片的最佳厚度范圍為150-250nm,過薄的樣品通常比較脆弱,容易在轉(zhuǎn)移的過程中損壞,而過厚的樣品易于發(fā)生動力學(xué)散射效應(yīng),導(dǎo)致分辨率和衍射數(shù)據(jù)質(zhì)量明顯下降。此外,本研究還探索了晶體切片的微小形變對電子衍射花樣和強度的影響,為后續(xù)研究鋪墊了道路。本研究解決了電子衍射樣品制備的技術(shù)瓶頸,將有力地推進電子衍射技術(shù)在蛋白質(zhì)或者有機分子晶體的結(jié)構(gòu)測定中的更廣泛應(yīng)用,彌補現(xiàn)有X射線衍射晶體學(xué)技術(shù)的不足,甚至可以作為一種更低成本和更高分辨率的技術(shù)來替代傳統(tǒng)的X射線衍射晶體學(xué)技術(shù)。
清華大學(xué)生命學(xué)院李雪明研究員為本文的通訊作者,清華大學(xué)生命學(xué)院四年級博士生周珩、羅智璞博士(現(xiàn)任蘇州大學(xué)分子酶學(xué)研究所教授)為本文共同第一作者。
國家蛋白質(zhì)科學(xué)中心(北京)清華大學(xué)冷凍電鏡平臺為本研究的樣品制備和數(shù)據(jù)收集提供了支持,清華大學(xué)冷凍電鏡平臺的李曉敏博士和李丹陽對樣品制備提供了技術(shù)幫助。國家自然科學(xué)基金委、科技部重點研發(fā)計劃、北京市結(jié)構(gòu)生物學(xué)高精尖創(chuàng)新中心、清華-北大生命科學(xué)聯(lián)合中心為本研究提供了經(jīng)費支持。
論文鏈接:https://doi.org/10.1016/j.jsb.2019.02.004
圖1 聚焦離子束蛋白質(zhì)微晶切割、優(yōu)化及結(jié)構(gòu)解析流程圖
版權(quán)與免責聲明:本網(wǎng)頁的內(nèi)容由收集互聯(lián)網(wǎng)上公開發(fā)布的信息整理獲得。目的在于傳遞信息及分享,并不意味著贊同其觀點或證實其真實性,也不構(gòu)成其他建議。僅提供交流平臺,不為其版權(quán)負責。如涉及侵權(quán),請聯(lián)系我們及時修改或刪除。郵箱:sales@allpeptide.com